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      可靠性測試

      加速測試

            大多數半導體器件的壽命在正常使用下可超過很多年。但我們不能等到若干年后再研究器件;我們必須增加施加的應力。施加的應力可增強或加快潛在的故障機制,幫助找出根本原因,并幫助 TI 采取措施防止故障模式。

      在半導體器件中,常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。在大多數情況下,加速測試不改變故障的物理特性,但會改變觀察時間。加速條件和正常使用條件之間的變化稱為“降額”。

       

      以下是常見的半導體可靠性測試項目和條件:

       

      類別

      測試項目

      測試條件

      測試時間

      樣品數

      判定

      參考標準

      壽命試驗

      HTGB

      Ta=150℃,100%VgsMax

      168/500 hrs

      77Pcs

      0/1

      JESD22-A108

      HTRB

      Ta=150℃,80%VdsMax

      168/500 hrs

      77Pcs

      0/1

      JESD22-A108

      環境應力實驗

      Precondition

      30℃/60%RH+3 cycle reflow@260℃ (MSL3)

      192hrs

      77Pcs

      0/1

      JESD22-A113

      HTST

      Ta=150

      168/500 hrs

      77Pcs

      0/1

      JESD22-A103

      TCT

      -65~150

      500Cycle

      77Pcs

      0/1

      JESD22-A104

      UHAST

      130℃/85%RH/33.3psia

      96hrs

      77Pcs

      0/1

      JESD22-A118

      PCT

      121℃/100%RH/29.7psia

      96hrs

      77Pcs

      0/1

      JESD22-A102

      THT

      85℃/85%RH

      168/500 hrs

      77Pcs

      0/1

      JESD22-A102

      H3TRB

      85℃,85%RH,80% VDS, up to 100V

      168/500/1000hrs

      77Pcs

      0/1

      JESD22-A101

      IOL

      △Tj>100℃

      Package dependent

      77Pcs

      0/1

      MIL-STD-750 Method 1037

       

      靜電放電 (ESD)

      靜電荷是靜置時的非平衡電荷。通常情況下,它是由絕緣體表面相互摩擦或分離產生;一個表面獲得電子,而另一個表面失去電子。其結果是稱為靜電荷的不平衡的電氣狀況。當靜電荷從一個表面移到另一個表面時,它便成為靜電放電 (ESD),并以微型閃電的形式在兩個表面之間移動。當靜電荷移動時,就形成了電流,因此可以損害或破壞柵極氧化層、金屬層和結。

      JEDEC 通過兩種方式測試 ESD:

      1.人體放電模型 (HBM)

      一種組件級應力,用于模擬人體通過器件將累積的靜電荷釋放到地面的行為。

       

      2.帶電器件模型 (CDM)

      一種組件級應力,根據 JEDEC JESD22-C101 規范,模擬生產設備和過程中的充電和放電事件。

       

       

       

       

       

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      創建時間:2021-07-03
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